山西stil传感器应用案例

公司基于创新的技术开发了两个系列的产品：从0.1μm到100mm测量行程的点光谱共焦传感器、从1.8mm到45mm线长的不同测量行程的线光谱共焦传感器。这些高分辨率的非接触式传感器***运用于各种不同要求的高精密测量场合。从物体表面细微结构、形状及纹理粗糙度的测量分析，到工业环境下的在线质量检测、过程控制与逆向工程，及实验室研究场合的高精度设备，我们的光谱共焦传感器都成了众多客户不可或缺的选择。我们为全球各行业（可应用行业范围：玻璃、医疗、电子、半导体、汽车、航空航天、制表业…等）企业提供高性能的光谱共焦位移传感器。任何材料的物体，如金属、玻璃、陶瓷、半导体、塑料、织物等，我们的光谱共焦传感器都可轻松测量，而且对被测物体表面的颜色和光洁度也没有任何特殊要求，无论什么颜色，物体表面是漫反射或者高光面，乃至于镜面都可以轻松测量。光谱共焦传感器，就选马波斯测量科技，让您满意，有想法可以来我司咨询！山西stil传感器应用案例

太阳能路灯节能环保，无污染、无危害，所以它越来越受欢迎，走入我们的视线，慢慢占据了市场。现如今太阳能路灯的电池层出不穷，除了常规的铅酸电池和胶体电池以外，锂电池更是轻易得到了人们的认可。锂电池无污染、寿命长、温度适应能力强、更智能、更安全的优点得到了人们的青睐。马波斯tsil光谱共焦技术在锂电池检测上的应用锂电池电池粗糙度测量航空航天行业航空航天行业是一个以现代科学为基础的高新技术产业，是国民经济建设的重要组成部分，我国一直以来都大力发展航空航天行业，且已经成为一个航天实力雄厚的强国。北京Marposs 传感器技术非接触式测量，一体化设计，3D轮廓扫描，多功能数据处理适用于各种材料的精确测量。

光谱共焦位移传感器原理介绍一束白光点光源，通过色散透镜发生光谱色散，形成不同波长的单色光，每个波长的都有一个完美聚焦点且对应一个相对高度距离值（测量范围）。测量时所有波段的光射到物体表面被原路反射到半透半反射镜并重新聚焦，只有在被测物体上完美聚焦S‘点的波段的光才会通过共焦点小孔S“并被光谱仪感测到，其他波长的光被挡在小孔之外，通过计算进入小孔的光谱波长换算出相对距离。面白光干涉传感器白光干涉测量**于非接触式快速测量，精密零部件之重点部位的表面粗糙度、平面度、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、面形轮廓及台阶段差尺寸，其测量精度可以达到纳米级！目前，在3D测量领域，白光干涉仪是精度比较高的测量仪器之一

随着汽车行业的竞争加剧，各厂家对产品的品质要求会更高。汽车四大生产工艺冲压/焊装/涂装/总装的生产线上大量的视觉装置已经逐步应用起来。以前人们对视觉传感器有一种恐惧心理，认为其操作复杂，设定繁琐；其实现在厂商使用的都是菜单化操作，并将频繁使用的操作转化为控制器上的特定按钮，单触发就可以完成菜单的转换。司逖光谱共焦传感器不仅*在质量监控方面起着举足轻重的地位，在设备的预防保全方面同样也有用武之地。例如在涂装/总装使用的输送链，经常因为链条的疲劳老化断裂而产生断链的故障，并且修复时间长严重影响生产。如果能对链条的拉伸变化量进行测量，就可以在疲劳断裂前进行更换，从而减少停机时间，降低成本，司逖光谱共焦传感器的位移监测正可以做到这一点！同时传感器的高速计测可以在输送链运行时作检测，根据存储的数据，维修人员作出保养维护计划。马波斯测量科技致力于提供专业的光谱共焦传感器，竭诚为您。

而光谱共焦测量方法恰恰利用这种物理现象的特点。通过使用特殊透镜，延长不同颜色光的焦点光晕范围，形成特殊放大色差，使其根据不同的被测物体到透镜的距离，会对应一个精确波长的光聚焦到被测物体上。通过测量反射光的波长，就可以得到被测物体到透镜的精确距离。这一过程与摄影器材通过各种方法消减色差的过程正好相反。白色光通过一个半透镜面到达凸透镜。上述特殊色差就在这里产生。光线照射到被测物体后发生反射,透过凸透镜，返回到传感器探头内的半透镜上。半透镜将反射光折射到一个穿孔盖板上，小孔只允许聚焦好的反射光通过。透过穿孔盖板的光是一组模糊光谱，也就是说若干不同波长的光都有可能穿过小孔照在CCD感光矩阵单元上。但是只有在被测物体上聚焦的反射光拥有足够光强，在CCD感光矩阵上产生一个明显的波峰。在穿孔盖板后面，需要一个分光器测量反射光的颜色信息。分光器类似一个特制光栅，可以根据反射光的波长，增强或减弱折射率。因此，CCD矩阵上的每一个位置，对应一个测量物体到探头的距离。马波斯测量科技为您提供专业的光谱共焦传感器，欢迎新老客户来电！北京Marposs 传感器技术

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优势•￭非接触三维表面轮廓测量•￭噪音小，测量重复性好•￭纳米级分辨率：Z轴分辨率比较高可达0.1nm•￭测量的点云数多：一个面**多可以达到500万个点•￭点间距小，XY分辨率高•￭多种视野范围可供选择，快速切换物镜变换视野•￭测量速度快，可实现在线测量技术特点1.干涉条纹扫描测量表面位置信息的理论根据是被测表面上各点深度不同所形成的干涉光强不同。2.产生干涉情况下，波长与可测量的深度数据相对应。3.在白光干涉中，干涉图样是由各色光形成的单色干涉图样形成的。被测表面上各点的深度不同，根据光的波动性与同调性，所对应的干涉光强中各频谱成分的强度不同，各色光的干涉级次不同。有助于更加准确的得到表面的位置信息山西stil传感器应用案例